シリコン
シリコンウェーハ
半導体用基板として使用されるシリコンウェーハをお客様のニーズに応じた仕様にて提供致します。
特殊な仕様をご希望の場合もご相談ください。
標準仕様
下記仕様を参考にご相談ください。
直径 | 2″φ | 3″φ | 4″φ | 5″φ | 6″φ | 8″φ | 12″φ |
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製法 | CZ or FZ | CZ or FZ | CZ or FZ | CZ or FZ | CZ or FZ | CZ or FZ | MCZ |
結晶軸 | <100> or <111> | <100> or <111> | <100> or <111> | <100> or <111> | <100> or <111> | <100> or <111> | <100> |
型 | P or N | P or N | P or N | P or N | P or N | P or N | P or N |
比抵抗 | 0.01~1,000 Ωの任意の抵抗値 | 0.01~1,000 Ωの任意の抵抗値 | 0.01~1,000 Ωの任意の抵抗値 | 0.01~1,000 Ωの任意の抵抗値 | 0.01~1,000 Ωの任意の抵抗値 | 0.01~1,000 Ωの任意の抵抗値 | 0.01~1,000 Ωの任意の抵抗値 |
厚さ | 280±25 μ | 380±25 μ | 525±25 μ | 625±25 μ | 625±25 μ | 725±25 μ | 775±25 μ |
表面仕上 | Polish | Polish | Polish | Polish | Polish | Polish | Polish |
裏面仕上 | Etch | Etch | Etch | Etch | Etch | Etch | Polish |
薄膜加工ウェーハ(海外メーカーとの提供も致しております)
- 酸化膜(熱酸化)
- 4”φ~12”φウェーハにウェット及びドライの酸化プロセスにて500Å~3μm膜厚の範囲にわたりご提供しています。
- メタル膜(スパッタリング)
- 4”φ~12”φウェーハに
・Ta、Tan、Ti、TiN、W、Wsi、TiW、Cr 300Å~3,000Å
・Cu、Al、Al-Cu(1%)、Al-Si(1%)、Al-Si(1%)-Cu(1%) 500Å~1.5μm
の任意の膜厚加工致します。 - メタル膜(真空蒸着)
- 4”φ~12”φウェーハに
・Pt、Ru、Pd、Au、Ag、Co、Ni、NiSI、Al合金、Cu 1,000Å~2μm
の任意の膜厚加工致します。
特殊加工
半導体装置用として多様な加工にてご提供可能です。
・角、ザグリ、穴あけ、円筒、ダウンサイズ、薄加工等任意のサイズに加工が可能です
シリコン屑
リサイクル、添加材用途として
・インゴットのトップ、テール・インゴットの格外品
各種化合物材料
パワーデバイス、LED、半導体レーザー、発光ダイオード用等基板として
・SiC(シリコンカーバイド)・GaN(ガリウムナイトライド)
・GaAs(ガリウムヒ素)
・InP(インジウムリン)
他材料
LED用基板、光学窓材として
・サファイア